Projekte von DKE/K 631

DIN EN IEC 60749-20-1 2018-07-30 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Transport oberflächenmontierbarer Bauelemente, die empfindlich gegen die Kombination von Feuchte und Lötwärme sind (IEC 47/2488/CDV:2018); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-20-1:2018 Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN 62433-6 2017-08-16 EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI) (IEC 47A/1019/CD:2017) Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN 63011-1 2017-01-24 Integrierte Schaltungen - Dreidimensionale integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe (IEC 47A/996/CD:2016) Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN 63011-3 2017-01-24 Integrierte Schaltungen - Dreidimensionale integrierte Schaltungen - Teil 3: Referenzmodell und Messbedingungen für Silizium-Via (IEC 47A/997/CD:2016) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47F/147A/CDV 2013-04-05 IEC 62047-21 Ed.1: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47F/148/CDV 2013-03-29 IEC 62047-22 Ed.1: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47F/151/CD 2013-03-22 IEC 62047-16 Ed. 1: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films?wafer curvature and cantilever beam deflection methods Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47F/149/CD 2013-02-22 IEC 62047-15 Ed.1: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47A/899/CD 2013-02-01 IEC 62132-1 Ed.2: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47F/146/CD 2013-01-11 IEC 62047-17 Ed.1: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films Mehr  Kontakt zu DIN