Projekt

IEC 62047-15 Ed.1: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass

Beginn

2013-02-22

Geplante Dokumentnummer

IEC 47F/149/CD

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/SC 47F - Mikrosystemtechnik  

Ihr Kontakt

Elena Rongen

Merianstraße 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-429

Zum Kontaktformular