Kurzreferat

Dieser Teil der Normenreihe DIN EN 62433 (VDE 0847-33) legt einen Ablauf für die Ableitung eines Makromodells fest, mit dem die Simulation der Störfestigkeit gegen vorübergehende leitungsgeführte Störungen einer integrierten Schaltung (IC) gegenüber Impulsen, wie etwa die Entladung statischer Elektrizität (ESD) und schnelle transiente elektrische Störgröße (EFT), möglich ist.

Beginn

2017-08-16

Geplante Dokumentnummer

DIN EN 62433-6

Projektnummer

02227775

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Norm-Entwurf

EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI) (IEC 47A/1019/CD:2017)
2017-11
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