DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
DIN ISO 11505
Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie (ISO 11505:2012); Text Deutsch und Englisch
Surface chemical analysis - General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry (ISO 11505:2012); Text in German and English
Einführungsbeitrag
Dieser internationale Norm-Entwurf beschreibt ein Verfahren der optischen Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie (GD-OES) zur Bestimmung der Dicke, flächenbezogenen Masse und chemischen Zusammensetzung von Oberflächenschichten. Er beschränkt sich auf die Beschreibung der allgemeinen Verfahren zur quantitativen GD-OES-Bestimmung und gilt nicht direkt für die quantitative Analyse einzelner Materialien mit veränderlicher Dicke und verschiedenen zu bestimmenden Elementen. Das zuständige deutsche Gremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-08-16 "Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie
