DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO)
DIN EN ISO 21254-1
Laser und Laseranlagen - Prüfverfahren für die laserinduzierte Zerstörschwelle - Teil 1: Begriffe und allgemeine Grundsätze (ISO/DIS 21254-1:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN ISO 21254-1:2024
Lasers and laser-related equipment - Test methods for laser-induced damage threshold - Part 1: Definitions and general principles (ISO/DIS 21254-1:2024); German and English version prEN ISO 21254-1:2024
Einführungsbeitrag
Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 027-01-18 AA "Laser und elektro-optische Systeme" im DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO). Dieses Dokument legt Begriffe und die allgemeinen Grundsätze von Prüfverfahren fest, die zur Bestimmung der laserinduzierten Zerstörschwelle und Belastbarkeit von optischen, mit Laserstrahlung beanspruchten Laserkomponenten verwendet werden. Optische Komponenten werden oberhalb der sogenannten laserinduzierten Zerstörschwelle (englisch: laser-induced damage threshold, LIDT oder Beschädigungsgrenzwert) irreversibel geschädigt: das ist das maximale Bestrahlungsniveau der Laserquelle, bei dem die Wahrscheinlichkeit einer Beschädigung gleich Null ist. Unterhalb der Einzelschuss-Zerstörschwelle könnte sich im Laufe der Zeit auch ein verzögertes Zerstörungsereignis als Folge einer wiederholten Laserbestrahlung entwickeln: der sogenannte Ermüdungseffekt. Alternativ kann eine wiederholte Exposition mit allmählich zunehmender Laserbestrahlung eine Erhöhung der Zerstörschwelle bewirken: der sogenannte Konditionierungseffekt.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN ISO 21254-1:2011-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Es werden Kriterien für funktionelle Schäden und die funktionelle Schadensschwelle (F-LIDT) eingeführt; b) Es werden neue Einheiten für die Laserbestrahlungsstärke eingeführt; c) Es werden zwei neue Prüfprotokolle eingeführt: 1) Erweiterung des R(S)-auf-1-Tests; 2) Erweiterung des Rasterscan-Tests; d) Integration eines neuen Abschnitts "Allgemeine Verwendungshinweise" in Anhang A; e) Die Diskussion über die Genauigkeit von Messeinheiten wird erweitert.
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 027-01-18 AA - Laser und elektro-optische Systeme
Zuständiges europäisches Arbeitsgremium
CEN/TC 123 - Laser und Photonik
Zuständiges internationales Arbeitsgremium
ISO/TC 172/SC 9/WG 1 - Terminologie und Prüfverfahren für elektrooptische Systeme
