NA 027

DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO)

Norm-Entwurf [NEU]

DIN ISO 10110-8
Optik und Photonik - Erstellung von Zeichnungen für optische Elemente und Systeme - Teil 8: Oberflächenbeschaffenheit (ISO 10110-8:2019); Text Deutsch und Englisch

Titel (englisch)

Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 8: Surface texture (ISO 10110-8:2019); Text in German and English

Einführungsbeitrag

Der Entwurf der Norm DIN ISO 10110-8 ist Teil einer umfangreichen Normenreihe zur Erstellung von Zeichnungen für optische Elemente und Systeme. Dieser Norm-Entwurf beschreibt die Angabe der Oberflächenbeschaffenheit von optischen Elementen, in der Normenreihe ISO 10110, die Zeichnungsangaben für optische Elemente und Systeme normiert. Die Oberflächenbeschaffenheit ist die Eigenschaft einer Oberfläche, die wirkungsvoll durch statistische Verfahren beschrieben werden kann. Typischerweise hängt die Oberflächenbeschaffenheit mit hohen Raumfrequenzfehlern (Rauheit) und mittleren Raumfrequenzfehlern (Welligkeit) zusammen. Diese Norm ist vorrangig vorgesehen für die Spezifikation von polierten Optiken. Dieser Norm-Entwurf beschreibt ein Verfahren zur Charakterisierung der verbleibenden Oberfläche nach Trend-Bereinigung durch Subtraktion der Oberflächenform. Die Kontrolle der Oberflächenform wird durch ISO 10110-5, ISO 10110-12 und ISO 10110-19 beschrieben und ist nicht in diesem Dokument festgelegt. Die Internationale Norm ISO 10110-8 wurde vom ISO/TC 172/SC 1 (Sekretariat: DIN, Deutschland) unter maßgeblicher Beteiligung deutscher Experten ausgearbeitet. Bei DIN Deutsches Institut für Normung e. V. ist hierfür der Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO) zuständig. Gegenüber DIN ISO 10110-8:2012-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) eine Zeichnungsangabe und Erklärung wurde für die folgenden flächenhaften Terme hinzugefügt: Sa, Sq, SΔq, und APSD; b) Die folgenden Terme sind explizit erlaubt: Ra, Rsk, Rku, und ACV, wodurch mehrere Definitionen und zusätzliche Beispiele notwendig wurden. c) Diese Ausgabe entfernt den Verweis auf Mikrodefekte als Methode zur Bestimmung des Poliergrades und ersetzt dies durch genaue rms Rauheitswerte. d) Die Begriffe "Oberflächentextur", "Oberflächenstruktur" und "Oberflächengüte" wurden harmonisiert zu "Oberflächenbeschaffenheit". e) Die Übersetzung der Begriffe aus ISO 4287 und ISO 3208 wurden an deren Deutsche Fassungen angepasst. Die en: "sampling length" vorher "Abtastlänge" wird in dieser Version als "Einzelmessstrecke" (3.15) übersetzt. Die en: "evaluation length" früher "Auswertungslänge" wird nun als "Messstrecke" (3.16) bezeichnet. Der en: "local slope" vorher "lokaler Anstieg" wird nun als "lokale Steigung" übersetzt. f) Zu den Begriffen 3.24, 3.28, 3.32 wird jeweils nur noch die Kurzschreibweise verwendet; 3.24 "quadratischer Mittenrauwert" gelöscht, heißt jetzt "rms Rauheit"; 3.28 " quadratischer Mittenwelligkeitswert" gelöscht, heißt jetzt "rms Welligkeit"; 3.32 "quadratischer Mittenanstiegswert" gelöscht, heißt jetzt "rms Profilsteigung".

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN ISO 10110-8:2012-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) eine Zeichnungsangabe und Erklärung wurde für die folgenden flächenhafte Terme hinzugefügt: Sa, Sq, SΔq, und APSD; b) die folgenden Terme sind explizit erlaubt: Ra, Rsk, Rku, und ACV, wodurch mehrere Definitionen und zusätzliche Beispiele notwendig wurden; c) diese Ausgabe entfernt die Verweisung auf Mikrodefekte als Methode zur Bestimmung des Poliergrades und ersetzt dies durch genaue rms Rauheitswerte; d) die Begriffe "Oberflächentextur", "Oberflächenstruktur" und "Oberflächengüte" wurden harmonisiert zu "Oberflächenbeschaffenheit"; e) die Übersetzung der Begriffe aus ISO 4287 und ISO 3208 wurden an deren deutsche Fassungen angepasst. Die en: "sampling length" vorher "Abtastlänge" wird in dieser Version als "Einzelmessstrecke" (3.15) übersetzt. Die en: "evaluation length" früher "Auswertungslänge" wird nun als "Messstrecke" (3.16) bezeichnet. Der en: "local slope" vorher "lokaler Anstieg" wird nun als "lokale Steigung" übersetzt; f) zu den Begriffen 3.24, 3.28, 3.32 wird jeweils nur noch die Kurzschreibweise verwendet; 3.24 "quadratischer Mittenrauwert" gelöscht, heißt jetzt "rms Rauheit"; 3.28 "quadratischer Mittenwelligkeitswert" gelöscht, heißt jetzt "rms Welligkeit"; 3.32 "quadratischer Mittenanstiegswert" gelöscht, heißt jetzt "rms Profilsteigung".

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 027-01-02-02 AK - Zeichnungen für die Optik 

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 172/SC 1/WG 2 - Zeichnungsangaben in der Optik 

Ausgabe 2020-10
Erscheinung 2020-09-18
Frist zur Stellungnahme bis 2020-11-18
Originalsprache Deutsch, Englisch
Preis ab 86,35 €
Inhaltsverzeichnis

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