Projekte von NA 062-08-16 AA

ISO/AWI 4245 2023-01-10 Diagnostic method whether a binary organic mixture can be quantitated by the relative sensitivity factor methods for SIMS Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 4508 2022-12-19 Surface chemical analysis--Scanning probe microscopy--Guidelines for the method and procedure for determining the effect of temperature on AFM nano-scale dimension measurements Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 23971 2022-06-08 Analyse von Luft-PM-Filtern mittels XRF unter streifendem Einfall Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 16666 2022-06-08 Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF) – Allgemeine Grundlagen und Begriffe Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 16524 2022-06-07 Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für die quantitative Messung von Potenzialen im Nanobereich mittels Kelvinsonden-Kraftmikroskopie Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/DIS 20579-1 2022-02-17 Chemische Oberflächenanalyse - Handhabung, Vorbereitung und Montage von Proben - Teil 1: Dokumentation und Berichterstattung über die Behandlung von Proben vor der Analyse Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/DIS 20579-2 2022-02-17 Chemische Oberflächenanalyse - Handhabung, Vorbereitung und Montage von Proben - Dokumentieren und Berichten über die Vorbereitung und Einbettung von Proben für die Analyse Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/AWI TR 13096 2021-11-15 Guideline to describe AFM probe properties Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO 5861 2021-07-22 Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektrometrie - Methode der Intensitätskalibrierung für mit Quarzkristallen monochromatisierte Al Kα XPS-Geräte Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD TR 18392 2017-09-23 Chemische Analytik an Oberflächen - Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Verfahren für die Bestimmung des Untergrunds Mehr  Kontakt zu DIN