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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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DIN EN 60793-2 ; VDE 0888-300:2008-11 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
EN 60793-1-33 2002-04 Lichtwellenleiter - Teil 1-33: Messmethoden und Prüfverfahren; Spannungskorrosionsempfindlichkeit (IEC 60793-1-33:2001) Mehr 
EN 60793-1-34 2006-06 Lichtwellenleiter - Teil 1-34: Messmethoden und Prüfverfahren - Faserringeln (IEC 60793-1-34:2006) Mehr 
EN 60793-1-40 2003-12 Lichtwellenleiter - Teil 1-40: Messmethoden und Prüfverfahren - Dämpfung (IEC 60793-1-40:2001, modifiziert) Mehr 
EN 60793-1-41 2003-12 Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren; Bandbreite (IEC 60793-1-41:2003) Mehr 
EN 60793-1-42 2007-06 Lichtwellenleiter - Teil 1-42: Messmethoden und Prüfverfahren - Chromatische Dispersion (IEC 60793-1-42:2007 + Corrigendum 2007) Mehr 
EN 60793-1-43 2002-02 Lichtwellenleiter - Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren; Numerische Apertur (IEC 60793-1-43:2001) Mehr 
EN 60793-1-44 2002-02 Lichtwellenleiter - Teil 1-44: Messmethoden und Prüfverfahren; Grenzwellenlänge (IEC 60793-1-44:2001) Mehr 
EN 60793-1-45 2003-12 Lichtwellenleiter - Teil 1-45: Messmethoden und Prüfverfahren - Modenfelddurchmesser (IEC 60793-1-45:2001 + Corrigendum 2002, modifiziert) Mehr 
EN 60793-1-46 2002-02 Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen (IEC 60793-1-46:2001) Mehr 
EN 60793-1-47 2007-06 Lichtwellenleiter - Teil 1-47: Messmethoden und Prüfverfahren - Makrobiegeverlust (IEC 60793-1-47:2007) Mehr