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Projekte von DKE/K 631

IEC 47/1842/NP 2005-10-21 NP-PAS: Measuring Whisker Growth on Tin and Tin Alloy Surface Finishes (JESD22A121) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 110/57/NP 2005-07-08 (Future IEC 62341-5): Organic light emitting diode displays - Part 5: Environmental and mechanical endurance test methods Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1792/NP 2004-10-08 NP-PAS: Electronic Components - Long duration storage of electronic components guide for implementation Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1777A/CDV 2004-09-03 Halbleiterbauelemente - Abkündigungsmittel für Halbleiterprodukte (IEC 47/1777A/CDV:2004) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1771/NP 2004-07-30 Generic specifications for MEMS Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1772/NP 2004-07-30 NP-PAS: Marking, Symbols, Labels for Identification of Lead (Pb) Free Assemblies, Components, and Devices (JESD-97) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 110/23/NP 2004-07-02 (Future IEC 61988-5) Plasma Display Panels - Part 5: Generic Specification Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1744/NP 2004-01-16 Complete update of IEC 60749. Addition of test methods (together with proposed number): IEC 60749-20-1, IEC 60749-35, IEC 60749-37, IEC 60749-38, IEC 60749-39 Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47A/730/CD 2003-11-28 Integrierte Schaltungen - Messung der Störfestigkeit gegen Impulse - Teil 2: Impulseinspeisungsverfahren (IEC 47A/730/CD:2005) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1725A/NP 2003-11-07 WITHDRAWAL of 47/1725/NP: IEC 60747-1: SEMICONDUCTOR DEVICES: Part 1: General Mehr  Kontakt zu DIN