Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 47/2770/CDV:2022); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-5:2022
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 60749 sieht einen stationären Temperatur- und Feuchtigkeits- Lebensdauertest vor, um die Zuverlässigkeit von nicht-hermetisch verpackten Halbleiterbauelementen in feuchten Umgebungen zu bewerten.
Beginn
2022-09-15
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 60749-5
Projektnummer
02231215
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
Ersatzvermerk
Vorgesehen als Ersatz für DIN EN 60749-5:2018-01
Norm-Entwurf
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 47/2770/CDV:2022); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-5:2022
2024-04
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