Projekt

Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils (IEC 47/2718/CDV:2021); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63287-2:2021

Kurzreferat

Dieser Teil der IEC 63287 gibt Richtlinien für die Entwicklung von Plänen zur Zuverlässigkeitsqualifizierung unter Verwendung des Konzepts des Einsatzprofils, basierend auf den Umgebungsbedingungen und dem vorgesehenen Einsatz des Produkts. Dieses Dokument ist nicht für militärische und raumfahrtbezogene Anwendungen bestimmt.

Beginn

2021-06-25

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 63287-2

Projektnummer

02230363

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Norm-Entwurf

Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils (IEC 47/2718/CDV:2021); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63287-2:2021
2022-06
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