Norm [AKTUELL]

UNE-EN IEC 60749-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2022.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2022.)

Ausgabe 2022-07-01
Originalsprache Englisch
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