Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-29
; NF EN 60749-29:2012-08-01
NF C96-022-29
; NF EN 60749-29:2012-08-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: latch-up test