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Norm [AKTUELL]

OVE EN 60749-3
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2017) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017) (german version)

Ausgabe 2018-02-01
Originalsprache Deutsch
Preis ab 86,54 €
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