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Projekte von NA 062-09-104 AA

ISO/AWI 25835 2026-08-21 Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method for data acquisition and processing of three-dimensional electron diffraction Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/AWI 26665 2026-06-12 Mikrobereichsanalyse - Herstellung von Schliffproben metallischer Werkstoffe mittels fokussiertem Ionenstrahl (FIB) Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/AWI 20171 2026-01-05 Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie — Tagged Image File Format für die Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM) Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 26100 2025-10-23 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Dickenmessung dünner Folien mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 25871 2025-07-28 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Verfahren zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenstrahlbeugung Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/AWI 17470 2025-03-03 Mikrobereichsanalyse - Elektronensondenmikroanalyse - Leitfäden zur qualitativen Punktanalyse durch wellenlängendispersive Röntgenspektrometrie Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/DIS 5820 2024-10-30 Mikrobereichsanalyse - Hyperdimensionale Dateispezifikation (HMSA) Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/CD 13139 2024-08-22 Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Messung der Versetzungsdichte in dünnen Metallen Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO/FDIS 16887 2024-03-27 Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems Mehr  Kontakt zu DIN 
ISO 23699 2024-02-19 Mikrobereichsanalyse - Elektronenrückstreubeugung - Fachwörterverzeichnis Mehr  Kontakt zu DIN 

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