Mikrobereichsanalyse - Herstellung von Schliffproben metallischer Werkstoffe mittels fokussiertem Ionenstrahl (FIB)

2026-06-12

ISO/AWI 26665

NA 062-09-104 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

ISO/TC 202 - Mikrobereichsanalyse

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Steffen Jenkel

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