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Projekt

Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie — Tagged Image File Format für die Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)

Beginn

2026-01-05

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 20171

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 4 - Rasterelektronenmikroskopie  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

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