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Projekt

Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden für die Probenvorbereitung für das Transmissionselektronenmikroskop unter Verwendung der Focused-Ion-Beam-Verarbeitung

Beginn

2024-03-27

Geplante Dokumentnummer

ISO/WD 16887

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 3 - Analytische Elektronenmikroskopie  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

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