• Person sitzt vor Laptop mit Smartphone in der Hand und tippt darauf

    Die DINews in neuem Format Kompakt. Verständlich. Auf den Punkt.

    Jetzt abonnieren
  • Internationale Flaggen vor blauem Himmel

    Internationales Normungsbarometer Deutschland ist Normungsweltmeister

    Mehr erfahren
Projekt

Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems

Beginn

2024-03-27

Geplante Dokumentnummer

ISO/DIS 16887

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 3 - Analytische Elektronenmikroskopie  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

Zum Kontaktformular