Beginn

2025-03-03

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 17470

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 2 - Elektronenstrahl-Mikroanalyse  

Vorgänger-Dokument(e)

Mikrobereichsanalyse - Elektronensondenmikroanalyse - Leitfäden zur qualitativen Punktanalyse durch wellenlängendispersive Röntgenspektrometrie
2014-01

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