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Isolieröl - Bestimmung der Faserverunreinigungen mittels eines Zählverfahrens mit einem Mikroskop; Deutsche Fassung EN 50353:2001
Ausgabe 2002-03

Norm [AKTUELL]

DIN EN ISO 137

Wolle - Bestimmung des Faserdurchmessers - Mikroskop-Projektionsverfahren (ISO 137:2015); Deutsche Fassung EN ISO 137:2015
Ausgabe 2016-09

Norm [AKTUELL]

DIN EN ISO 2128

Anodisieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen - Bestimmung der Dicke von anodisch erzeugten Oxidschichten - Zerstörungsfreie Messung mit Lichtschnittmikroskop (ISO 2128:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2128:2010
Ausgabe 2010-12

Norm [AKTUELL]

DIN EN ISO 3146

Kunststoffe - Bestimmung des Schmelzverhaltens (Schmelztemperatur oder Schmelzbereich) von teilkristallinen Polymeren im Kapillarrohr- und Polarisationsmikroskop-Verfahren (ISO 3146:2022); Deutsche Fassung EN ISO 3146:2022
Ausgabe 2022-06

Norm [AKTUELL]

DIN EN ISO 8503-3

Vorbereitung von Stahloberflächen vor dem Auftragen von Beschichtungsstoffen - Rauheitskenngrößen von gestrahlten Stahloberflächen - Teil 3: Verfahren zur Kalibrierung von ISO-Rauheitsvergleichsmustern und zur Bestimmung der Rauheit - Mikroskopverfahren (ISO 8503-3:20012); Deutsche Fassung EN ISO 8503-3:2012
Ausgabe 2012-06

Norm [AKTUELL]

DIN EN ISO 9220

Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
Ausgabe 2022-05

Norm [AKTUELL]

DIN ISO 8037-1

Optik und optische Instrumente - Mikroskope; Objektträger - Teil 1: Maße, optische Eigenschaften und Kennzeichnung (ISO 8037-1:1986)
Ausgabe 2003-05

Norm [AKTUELL]

DIN ISO 8576

Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Bezugssysteme der Polarisationsmikroskopie (ISO 8576:1996)
Ausgabe 2002-06

Norm [AKTUELL]

DIN ISO 15632

Mikrobereichsanalyse - Ausgewählte instrumentelle Performanceparameter zur Spezifizierung und Überprüfung engergiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) für die Anwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Elektronenstrahlmikroanalysator (ESMA) (ISO 15632:2021)
Ausgabe 2022-09

Technische Regel [AKTUELL]

VDI/VDE 2655 Blatt 1.1

Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung
Ausgabe 2024-01