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DIN EN 50353 ; VDE 0370-17:2002-03
Isolieröl - Bestimmung der Faserverunreinigungen mittels eines Zählverfahrens mit einem Mikroskop; Deutsche Fassung EN 50353:2001
Ausgabe
2002-03
DIN EN ISO 137
Wolle - Bestimmung des Faserdurchmessers - Mikroskop-Projektionsverfahren (ISO 137:2015); Deutsche Fassung EN ISO 137:2015
Ausgabe
2016-09
DIN EN ISO 2128
Anodisieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen - Bestimmung der Dicke von anodisch erzeugten Oxidschichten - Zerstörungsfreie Messung mit Lichtschnittmikroskop (ISO 2128:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2128:2010
Ausgabe
2010-12
DIN EN ISO 3146
Kunststoffe - Bestimmung des Schmelzverhaltens (Schmelztemperatur oder Schmelzbereich) von teilkristallinen Polymeren im Kapillarrohr- und Polarisationsmikroskop-Verfahren (ISO 3146:2022); Deutsche Fassung EN ISO 3146:2022
Ausgabe
2022-06
DIN EN ISO 8503-3
Vorbereitung von Stahloberflächen vor dem Auftragen von Beschichtungsstoffen - Rauheitskenngrößen von gestrahlten Stahloberflächen - Teil 3: Verfahren zur Kalibrierung von ISO-Rauheitsvergleichsmustern und zur Bestimmung der Rauheit - Mikroskopverfahren (ISO 8503-3:20012); Deutsche Fassung EN ISO 8503-3:2012
Ausgabe
2012-06
DIN EN ISO 9220
Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
Ausgabe
2022-05
DIN ISO 8037-1
Optik und optische Instrumente - Mikroskope; Objektträger - Teil 1: Maße, optische Eigenschaften und Kennzeichnung (ISO 8037-1:1986)
Ausgabe
2003-05
DIN ISO 8576
Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Bezugssysteme der Polarisationsmikroskopie (ISO 8576:1996)
Ausgabe
2002-06
DIN ISO 15632
Mikrobereichsanalyse - Ausgewählte instrumentelle Performanceparameter zur Spezifizierung und Überprüfung engergiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) für die Anwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Elektronenstrahlmikroanalysator (ESMA) (ISO 15632:2021)
Ausgabe
2022-09
VDI/VDE 2655 Blatt 1.1
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung
Ausgabe
2024-01