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ISO/TC 201/SC 9/WG 4
Anwendungsorientierte dimensionelle Kalibrierungen von Rastersondenmikroskopen
ISO/TC 201/SC 9/SG 5
Grundlegende dimensionelle Kalibrierung von Rastersondenmikroskopen
ISO/TC 172/SC 5
Mikroskope und Endoskope
NA 027-01-04 AA
Mikroskope
ISO/TC 172/SC 5/WG 9
Optische Leistung von Mikroskopkomponenten
ISO/TC 201/SC 9/WG 8
Auswirkungen der Temperatrur auf dimensionale Rasterkraftmikroskopmessungen
DIN EN IEC 61189-3-303
Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 3-303: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten) - Ätzfaktormessung für Leiterbahnen auf Leiterplatten
