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Technische Regel [AKTUELL]

VDI/VDE 2655 Blatt 1.1
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung

Titel (englisch)

Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement

Ausgabe 2024-01
Originalsprache Deutsch , Englisch
Preis ab 120,60 €
Inhaltsverzeichnis