NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO/DIS 13084
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Kalibrierung der Massenskale für einen Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie

ISO/TC 201/SC 6/WG 4 - Statische SIMS

Ausgabe 2025-03

Originalsprache Englisch

Preis ab 74,40 €

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