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Veröffentlichungen von NA 062-08-16 AA

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ISO 20579-3 2021-04 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Probenhandhabung, Vorbereitung und Aufbringung - Teil 3: Biomaterialien Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 20579-4 2018-04 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Leitfäden für die Handhabung, Vorbereitung und Aufbringung von Proben - Teil 4: Berichterstattung in Bezug auf Vorgeschichte, Handhabung und Aufbringung von Nanoobjekten vor der Oberflächenanalyse Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 20903 2019-02 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Augerelektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Zur Bestimmung von Peakintensitäten verwendete Verfahren und bei der Angabe von Ergebnissen benötigte Informationen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 21222 2020-01 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung von Elastizitätsmodulen konformer Materialien mit Rasterkraftmikroskopie und Zweipunkt-JKR-Verfahren Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 21270 2004-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronen- und Augerelektronen-Spektrometer - Linearität der Intensitätsskala Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 22048 2004-08 Norm Chemische Analytik an Oberflächen - Informations-Format für die Sekundärionen-Massenspektrometrie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 22415 2019-05 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Verfahren zur Bestimmung der Volumenausbeute bei der Tiefenprofilierung von organischen Materialien mit Argon-Cluster-Sputtern Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 22581 2021-03 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Echtzeitnahe Informationen aus dem Übersichtsscan der Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Regeln zur Identifizierung und Korrektur bei Oberflächenkontaminierung mit kohlenstoffhaltigen Verbindungen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 23124 2024-04 Norm Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösungen eines Raman-Mikroskops Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 23170 2022-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilierung - Zerstörungsfreie Tiefenprofilierung nanoskaliger Schwermetalloxid-Dünnschichten auf Si-Substraten mit mittelenergetischer Ionenstreuung Mehr  Kaufen bei DIN Media