Veröffentlichungen von NA 062-08-16 AA

ISO 18115-3 2022-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Vokabular - Teil 3: Begriffe für die optische Grenzflächenanalyse Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 18118 2024-02 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Augerelektronen-Spektroskopie und Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie - Anleitung zur Nutzung von experimentell bestimmten relativen Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse von homogenen Materialien Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 18337 2015-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Oberflächencharakterisierung - Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 18516 2019-01 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Augerelektronen-Spektroskopie und Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie - Bestimmung der lateralen Auflösung Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 18554 2016-03 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Elektronenspektroskopie - Verfahren zur Identifizierung, Abschätzung und Korrektur unbeabsichtigter Zersetzung durch Röntgenstrahlung in einem Material, das einer Analyse mit Röntgenphotoelektronenspektroskopie unterzogen wird Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 19318 2021-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie - Darstellung von Methoden, die für die Aufladungskontrolle und die Aufladungskorrektur verwendet werden Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 19668 2017-08 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Bestimmung und Berichten der Nachweisgrenzen für Elemente in homogenen Materialien Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 19830 2015-11 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Elektronenspektroskopien - Mindestanforderungen an die Ausgabe zum Anfitten eines Peaks bei der Röntgenphotoelektronenspektroskopie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 20289 2025-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgentotalreflektion-Fluoreszenzanalyse von Wasser Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 20341 2003-07 Norm Chemische Analytik an Oberflächen - Sekundärionenmassenspektrometrie - Methode für die Bestimmung von Parametern der Tiefenauflösung mit Hilfe von Referenzmaterialien mit mehreren Deltaschichten Mehr  Kaufen bei DIN Media

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