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Norm [AKTUELL]

ISO 22415
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Verfahren zur Bestimmung der Volumenausbeute bei der Tiefenprofilierung von organischen Materialien mit Argon-Cluster-Sputtern

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6/WG 4 - Statische SIMS  

Ausgabe 2019-05
Originalsprache Englisch
Preis ab 182,00 €
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Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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