Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006
Ausgabe 2007-01

Angabe zum Betriebsverhalten von Gasanalysatoren - Teil 7: Gasanalysatoren mit abstimmbaren Halbleiterlasern (IEC 61207-7:2013); Deutsche Fassung EN 61207-7:2013
Ausgabe 2015-07

Lichtwellenleiter-Verstärker - Prüfverfahren - Teil 3-1: Rauschzahlparameter - Prüfverfahren mit optischem Spektralanalysator (IEC 61290-3-1:2003); Deutsche Fassung EN 61290-3-1:2003
Ausgabe 2004-05

Lichtmessung - Teil 9: Messung der lichttechnischen Größen von inkohärent strahlenden Halbleiterlichtquellen
Ausgabe 2015-01

Niederspannungsschaltgeräte - Teil 4-3: Schütze und Motorstarter - Halbleiter-Steuergeräte und Halbleiter-Schütze für nichtmotorische Lasten (IEC 60947-4-3:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60947-4-3:2024
Ausgabe 2025-10

Optoelektronische Halbleiterbauelemente für Anwendungen in Lichtwellenleitersystemen - Teil 1: Vorlage für Leistungsspezifikationen für wesentliche Grenz- und Kennwerte (IEC 62007-1:2015 + AMD1:2022); Deutsche Fassung EN 62007-1:2015 + A1:2022
Ausgabe 2023-07

Halbleiterbauelemente - Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung - Teil 3: Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne für Leistungshalbleitermodule (IEC 47/2873/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63287-3:2024
Ausgabe 2025-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 8: Dichtheit (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003); Deutsche Fassung EN 60749-8:2003
Ausgabe 2003-12

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung (IEC 60749-34:2010); Deutsche Fassung EN 60749-34:2010
Ausgabe 2011-05

Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 4: Codierungssystem für Gehäuse und Eingruppierung der Gehäuse nach der Gehäuseform für Halbleiterbauelemente (IEC 60191-4:2013 + A1:2018); Deutsche Fassung EN 60191-4:2014 + A1:2018
Ausgabe 2019-02