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Technische Regel [AKTUELL]

DIN SPEC 52407

Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM)
Ausgabe 2015-03

Norm [AKTUELL]

DIN EN 17641

Lebensmittel - Multiverfahren für die Bestimmung von Aflatoxinen, Deoxynivalenol, Fumonisinen, Ochratoxin A, T-2-Toxin, HT-2-Toxin und Zearalenon mittels LC-MS/MS; Deutsche Fassung EN 17641:2022
Ausgabe 2022-12

Norm [AKTUELL]

DIN EN ISO 14577-4

Metallische Werkstoffe - Instrumentierte Eindringprüfung zur Bestimmung der Härte und anderer Werkstoffparameter - Teil 4: Prüfverfahren für metallische und nichtmetallische Schichten (ISO 14577-4:2016); Deutsche Fassung EN ISO 14577-4:2016
Ausgabe 2017-04

Technische Regel [AKTUELL]

BVL L 00.00-185

Untersuchung von Lebensmitteln - Multiverfahren für die Bestimmung von Aflatoxinen, Deoxynivalenol, Fumonisinen, Ochratoxin A, T-2-Toxin, HT-2-Toxin und Zearalenon mittels LC-MS/MS (Übernahme der Norm DIN EN 17641, Dezember 2022)
Ausgabe 2023-08

Norm [AKTUELL]

ASTM E 2859

Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy
Ausgabe 2011

Norm [AKTUELL]

ISO 19606

Hochleistungskeramik - Prüfverfahren zur Bestimmung der Oberflächenrauheit dünner keramischer Schichten mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Ausgabe 2024-11

Norm [AKTUELL]

ASTM E 2382

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
Ausgabe 2004

Norm [AKTUELL]

ISO 13095

Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Verfahren zur in situ-Charakterisierung des Schaftprofils von AFM-Sonden zur Messung von Nanostrukturen
Ausgabe 2014-07

Norm [AKTUELL]

BS ISO 13095

Surface Chemical Analysis. Atomic force microscopy. Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
Ausgabe 2014-08-31

Norm-Entwurf

25/30469630 DC

BS ISO 4508 Surface chemical analysis - Scanning probe microscopy - Guideline for the method and procedure for determining the temperature effects on AFM dimensional measurements
Ausgabe 2025-02-06