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ISO/AWI TR 13096
Guideline to describe AFM probe properties
prCEN ISO/TS 21551
Nanotechnologien ¿ Verfahren zur Probenvorbereitung für Größen- und Formmessungen von Partikeln mittels Elektronenmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie
ISO/CD TS 23879
Nanotechnologies - Structural characterization of graphene oxide flakes: thickness and lateral size measurement using AFM and SEM
ISO/TC 201/SC 9/WG 8
Auswirkungen der Temperatrur auf dimensionale Rasterkraftmikroskopmessungen
DIN CEN ISO/TS 21551
Nanotechnologien — Verfahren zur Probenvorbereitung für Größen- und Formmessungen von Partikeln mittels Elektronenmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie
