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DIN 50989-5
Ellipsometrie - Teil 5: Modell Mehrfachschichten und periodische Schichten; Text Deutsch und Englisch
Ausgabe
2023-12
DIN 50989-6
Ellipsometrie - Teil 6: Modell Effektive Materialien; Text Deutsch und Englisch
Ausgabe
2024-02
DIN 50990
Messung von Schichtdicken - Messung der flächenbezogenen Masse von metallischen Schichten mittels spektrometrischer Messverfahren
Ausgabe
2018-12
DIN 50994
Messung von Schichten - Zerstörungsfreie Leitfähigkeitsmessung metallischer Schichten
Ausgabe
2017-11
DIN 50996
Nichtleitende Schichten - Zerstörungsfreie Messung der Schichtdicke - Terahertz-Messverfahren
Ausgabe
2020-05
DIN 50997
Durch Dünnschichtverzinken auf Stahl aufgebrachte Zink-Aluminiumüberzüge - Anforderungen und Prüfungen
Ausgabe
2020-08
DIN 51001
Prüfung oxidischer Roh- und Werkstoffe - Allgemeine Arbeitsgrundlagen zur Röntgenfluoreszenz-Analyse (RFA)
Ausgabe
2003-08
DIN 51001 Beiblatt 1
Prüfung oxidischer Roh- und Werkstoffe - Allgemeine Arbeitsgrundlagen zur Röntgenfluoreszenz-Analyse (RFA) - Übersicht stoffgruppenbezogener Aufschlussverfahren zur Herstellung von Proben für die RFA
Ausgabe
2010-05
DIN 51002
Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS) - Allgemeine Grundlagen und Begriffe
Ausgabe
2020-07
DIN 51003
Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF) - Allgemeine Grundlagen und Begriffe
Ausgabe
2022-05
