NA 062
DIN Standards Committee Materials Testing
Draft standard
[New]
ISO/DIS 16887
ISO/DIS 16887
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Guidelines for transmission electron microscopy specimen preparation by lift-out method using focused ion beam system
Title (German)
Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems
Responsible national committee
NA 062-08-18 AA - Electron microscopy and microbeam analysis
