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NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm-Entwurf [NEU]

ISO/DIS 16887
Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Guidelines for transmission electron microscopy specimen preparation by lift-out method using focused ion beam system

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 3 - Analytische Elektronenmikroskopie  

Ausgabe 2026-03
Frist zur Stellungnahme bis 2026-05-25
Originalsprache Englisch
Preis ab 76,70 €
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Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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