NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Norm
[ZURÜCKGEZOGEN]
DIN 50431
DIN 50431
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von Einkristallen aus Silicium oder Germanium mit dem Vier-Sonden-Gleichstrom-Verfahren bei linearer Anordnung der Sonden
Titel (englisch)
Testing of semiconductor materials; measurement of the resistivity of silicon or germanium single crystals by means of the four probe/direct current method with collinear array
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062 BR - Beirat des DIN-Normenausschusses Materialprüfung (NMP)
