NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Projekt
Nanotechnologien – Strukturelle Charakterisierung von Graphenoxid‑Flakes - Dicken‑ und laterale Größenmessung mittels AFM und REM
Kurzreferat
Dieses Dokument beschreibt Verfahren zur Messung der lateralen Größe und der Dicke von Graphenoxid-(GO-)Flakes unter Verwendung von Rasterelektronenmikroskopie (REM) bzw. Rasterkraftmikroskopie (AFM), einschließlich Probenvorbehandlung, Messverfahren und Datenauswertung. Es ist anwendbar auf die Charakterisierung von Graphenoxid in Pulver- und Flüssigdispersionsform.
Beginn
2026-04-29
WI
00352079
Geplante Dokumentnummer
DIN CEN ISO/TS 23879
Projektnummer
06237105
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-17 AA - Nanotechnologien
