2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Projekt

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Method for the measurement of mass resolution in SIMS

Beginn

2025-11-15

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI TS 22933

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6/WG 4 - Statische SIMS  

Vorgänger-Dokument(e)

Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Verfahren zur Messung der Massenauflösung in SIMS
2022-04

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