NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Vornorm

ISO/TS 22933
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Verfahren zur Messung der Massenauflösung in SIMS

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Method for the measurement of mass resolution in SIMS

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie

ISO/TC 201/SC 6 - Massenspektroskopien

Ausgabe 2022-04

Originalsprache Englisch

Preis ab 114,50 €

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