2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien
Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO/DIS 4508
Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Leitfaden für das Verfahren und die Vorgehensweise zur Bestimmung der Temperatureffekte auf AFM-Dimensionalmessungen

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Scanning probe microscopy - Guideline for the method and procedure for determining the temperature effects on AFM dimensional measurements

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-09-103 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 9/WG 8 - Auswirkungen der Temperatrur auf dimensionale Rasterkraftmikroskopmessungen  

Ausgabe 2025-02
Originalsprache Englisch
Preis ab 76,70 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

Zum Kontaktformular