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NA 043

DIN-Normenausschuss Informationstechnik und Anwendungen (NIA)

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Projekt

Einzelelektronenquellen – Terminologie, Metriken und Charakterisierungsmethoden

Kurzreferat

Dieses Dokument legt eine Reihe von Metriken und eine gemeinsame Terminologie für Einzelelektronenquellen fest, wobei verschiedene Realisierungsschemata berücksichtigt werden. Auf dieser Grundlage werden die wichtigsten Parameter und experimentelle Verfahren zur Messung dieser Parameter festgelegt. Es werden Charakterisierungsmethoden, einschließlich der Mindestanforderungen für die Berichterstattung über den Versuchsaufbau, die Betriebsbedingungen und die Datenanalyse, angegeben. Dieses Dokument wird im Arbeitsausschuss NA 043-02-05 AA "Quantentechnologien" im DIN-Normenausschuss Informationstechnik und Anwendungen (NIA) gespiegelt.

Beginn

2026-01-20

WI

JT022020

Geplante Dokumentnummer

DIN EN JT022020

Projektnummer

04301272

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 043-02-05 AA - Quantentechnologien  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/CLC/JTC 22/WG 2 - Quantenmetrologie, Sensorik und quantenbasierte bildgebende Verfahren, sowie Quanten-Basistechnologien  

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Marius Loeffler

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2353
Fax: +49 30 2601-42353

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