NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62496-2 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 62496-2-1 | 2011-07 | Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation Mehr |
| IEC 61300-1 | 2016-07 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 1: Allgemeines und Leitfaden Mehr |
| IEC 61300-3-53 | 2015-02 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-53: Untersuchungen und Messungen - Verfahren zur Messung des winkelabhängigen begrenzten Lichtstroms (EAF) basierend auf den zweidimensionalen Fernfelddaten einer Mehrmodenfaser Mehr |
| IEC 62614 | 2010-07 | Lichtwellenleiter - Anregungsbedingungen für Mehrmodendämpfungsmessungen Mehr |
| IEC 60793-1-43 | 2015-03 | Lichtwellenleiter - Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren - Numerische Apertur Mehr |
| IEC 60793-2 | 2015-11 | Lichtwellenleiter - Teil 2: Produktspezifikationen - Allgemeines Mehr |
| IEC 60825-1 | 2014-05 | Sicherheit von Lasereinrichtungen - Teil 1: Klassifizierung von Anlagen und Anforderungen Mehr |
| IEC 61280-4-1 | 2009-06 | Fibre-optic communication subsystem test procedures - Part 4-1: Installed cable plant - Multimode attenuation measurement Mehr |
| IEC 61745 | 2017-07 | Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern Mehr |
| IEC 62496-1 | 2008-12 | Optische Leiterplatten - Teil 1: Fachgrundspezifikation Mehr |
