NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60793-2-20 ; VDE 0888-322:2016-10 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60793-1-20 | 2014-10 | Lichtwellenleiter - Teil 1-20: Messmethoden und Prüfverfahren - Fasergeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-21 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-30 | 2010-05 | Lichtwellenleiter - Messmethoden und Prüfverfahren - Teil 1-30: Nachweis von Fehlern in Fasern Mehr |
| IEC 60793-1-43 | 2015-03 | Lichtwellenleiter - Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren - Numerische Apertur Mehr |
| IEC 60793-1-50 | 2014-09 | Lichtwellenleiter - Teil 1-50: Messmethoden und Prüfverfahren - Feuchte Wärme (konstant) Mehr |
| IEC 60793-1-51 | 2014-02 | Lichtwellenleiter - Teil 1-51: Messmethoden und Prüfverfahren - Trockene Wärme (konstant) Mehr |
| IEC 60793-1-52 | 2014-02 | Lichtwellenleiter - Teil 1-52: Messmethoden und Prüfverfahren - Temperaturwechsel Mehr |
| DIN EN 60793-1-21 ; VDE 0888-221:2002-11 | 2002-11 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie (IEC 60793-1-21:2001); Deutsche Fassung EN 60793-1-21:2002 Mehr |
| DIN EN 60793-1-30 ; VDE 0888-230:2011-08 | 2011-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-30: Messmethoden und Prüfverfahren - Nachweis von Fehlern in Fasern (IEC 60793-1-30:2010); Deutsche Fassung EN 60793-1-30:2011 Mehr |
| DIN EN 60793-1-43 ; VDE 0888-243:2015-12 | 2015-12 | Lichtwellenleiter - Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren - Numerische Apertur (IEC 60793-1-43:2015); Deutsche Fassung EN 60793-1-43:2015 Mehr |
