DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Lebensdauer von optischen Bauteilen und passiven Komponenten - Teil 6: Verwendung von Felddaten zur Bestimmung, Beschreibung und Verbesserung der Lebensdauer von Komponenten (IEC 86B/1815/CD:2002)
Kurzreferat
Dieses Dokument umreißt die Annäherungen die gemacht werden können, um Felddaten in ein Lebensdauerprogramm mit einzuschließen.Die meisten der existierenden Programme zur Sammlung und Analyse von Daten der Feldeigenschaften wurden aus den Perspektiven der Endverbraucher und der Telekommunikationsanbieter entwickelt. Dieses Dokument wurde in erster Linie für Komponentenhersteller entwickelt, um ihnen eine Richtlinie für die Bedürfnisse zu geben, wie die Sammlung der Felddaten, Aufzeichnungen und Analysen der Felddaten in Ergänzung zu den Laborprüfungen zur Produktlebensdauer abgeschätzt werden kann (z. B. Fehlerraten). Die wichtigen Unterschiede zwischen beiden Typen der Wegverfolgung sind in erster Linie in den Berücksichtigungen zu den erhaltbaren Information und deren jeweiligen Stärke und Schwäche zu sehen. Ein Beispiel dazu, der Betreiber hat mehr Informationen in der Feldverwendung und den Vorkommnissen bis zur Ersatzbeschaffung, aber der Komponentenhersteller hat eine bessere Kontrolle bei der Fehlermethoden-analyse (FMA). Die Komponentenhersteller verstehen mehr von den Fehlerarten und Beseitigungsmethoden. Folglich können die Planung der Wegverfolgung und die Bedürfnisse unterschiedlich sein.Dieses Dokument ist nicht geeignet, die Dokumente zur Wegverfolgung zu ersetzen, die für Systemhersteller oder Systemanwender entwickelt wurden, aber es ist als ein ergänzendes System für Komponentenhersteller entwickelt worden.
Beginn
2002-12-06
Geplante Dokumentnummer
IEC 86B/1824/NP
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/UK 412.7 - LWL-Verbindungstechnik und passive optische Komponenten
