DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI)
Kurzreferat
Dieser Teil von IEC 62433 legt einen Ablauf für die Ableitung eines Makromodells fest, mit dem die Simulation der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen einer integrierten Schaltung (en: integrated circuit (IC)) möglich ist. Dieses Modell wird allgemein als Modell der Störfestigkeit integrierter Schaltungen gegen leitungsgeführte Störungen (en: Integrated Circuit Immunity Model – Conducted Immunity, ICIM-CI) bezeichnet. Es dient der Vorhersage der Störfestigkeitspegel gegen leitungsgeführte HF-Störungen an IC-Anschlussstiften. Zur Bewertung der Störfestigkeitsschwelle eines elektronischen Bauelements wird dieses Makromodell in ein Simulationswerkzeug für elektrische Schaltungen eingegeben. Mit diesem Makromodell können sowohl analoge als auch digitale ICs (Eingang/Ausgang, digitaler Kern und Versorgung) modelliert werden. Die Nichtlinearitätseffekte der IC werden von diesem Makromodell nicht be- rücksichtigt. Der zusätzliche Nutzen des ICIM-CI besteht darin, dass anhand von Simulationen auch die Störfestigkeit auf Leiterplatten- und Systemebene vorhergesagt werden kann. Dieser Teil von IEC 62433 besteht aus zwei Hauptteilen: – der elektrischen Beschreibung der Elemente des ICIM-CI-Makromodells; – einem universellen Datenaustauschformat, welches als CIML bezeichnet wird und auf XML basiert. Mit diesem Format ist eine gebrauchsfähige und allgemeine Form der Codierung des ICIM-CI für die Simulation der Störfestigkeit möglich.
Beginn
2026-01-28
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 62433-4
Projektnummer
02233612
