DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 2: Bewertungsmethode für die Linearität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2942/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-2:2025
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 63550-2 legt die Prüfverfahren zur Bewertung der Linearität von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in dieser internationalen Norm umfassen die Langzeitpotenzierung (LTP), die Langzeitdepression (LTD), die Dauerhaftigkeit und Beibehaltung von LTD/LTP sowie die Linearität. Dieses Dokument gilt für neuromorphe 2-Terminal-Memristor-Bauelemente ohne Einschränkungen hinsichtlich der Bauelementetechnologie und -größe.
Beginn
2025-07-23
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63550-2
Projektnummer
02233314
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
Norm-Entwurf
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 2: Bewertungsmethode für die Linearität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2942/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-2:2025
2026-05
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