DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2943/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-1:2025
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 63550 legt die Prüfverfahren zur Bewertung der grundlegenden Eigenschaften von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in dieser internationalen Norm umfassen Initialisierung, Lesen, Formung, Potenzierung und Depression. Dieses Dokument gilt für 2-polige neuromorphe Memristor-Bauelemente ohne Einschränkungen hinsichtlich der Bauelementetechnologie und -größe.
Beginn
2025-06-27
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63550-1
Projektnummer
02233217
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
Norm-Entwurf
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2943/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-1:2025
2026-05
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