DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 63550-1
; VDE 0884-3550-1:2026-05
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2943/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-1:2025
Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 1: Evaluation method of basic characteristics in memristor devices (IEC 47/2943/CDV:2025); German and English version prEN IEC 63550-1:2025
Einführungsbeitrag
Dieser Teil von IEC 63550-1 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der grundlegenden Eigenschaften von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in diesem Dokument umfassen Initialisieren, Auslesen, Formieren, Potenzieren und Depression. Dieses Dokument ist anwendbar für neuromorphe Memristor-Bauelemente mit zwei Anschlüssen ohne Einschränkungen in Bezug auf Bauelementetechnologie und -größe. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Durch seine Anwendung erhöht dieses Dokument die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender, gibt Prüflaboratorien und Herstellern definierte Informationen für die Prüfung und erhöht die Kompatibilität der Produkte zwischen den Herstellern.
