Projekte von DKE/K 631

DIN EN IEC 63492-1 2023-04-21 Halbleiterbauelemente - Isolierung für Halbleiterbauelemente - Teil 1: Ausfallmechanismen und Messverfahren zur Bewertung der Festkörperisolierung für Halbleiterbauelemente Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN IEC 63287-3 2022-11-25 Halbleiterbauelemente - Fachgrundspezifikation für Halbleiter - Teil 3: Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne für Leistungshalbleitermodule Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN IEC 60749-5 2022-09-15 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 47/2770/CDV:2022); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-5:2022 Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN IEC 62228-5-100 2022-06-29 Änderung 1 - Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 5: Ethernet-Sende-Empfangsgerät Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN IEC 60749-34-1 2022-05-03 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN IEC 63150-3 2022-05-03 Halbleiterbauelemente - Mess- und Bewertungsverfahren für Geräte zur Gewinnung kinetischer Energie unter praktischen Vibrationsbedingungen - Teil 3: Aufprallbewegung des menschlichen Fußes Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN IEC 61967-8 2022-05-03 Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 8: Messung der abgestrahlten Aussendungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 47A/1136/CD:2022); Text Deutsch und Englisch Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN IEC 63364-1 2022-03-22 Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IOT-Systeme - Teil 1: Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen (IEC 47/2742/CDV:2021); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63364-1:2021 Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN IEC 60749-28 2022-03-22 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level (IEC 60749-28:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60749-28:2022 Mehr  Kontakt zu DIN 
DIN EN IEC 63287-2 2021-06-25 Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils (IEC 47/2718/CDV:2021); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63287-2:2021 Mehr  Kontakt zu DIN