2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. DKE
NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Über DKE Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien
Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN IEC 47(CO)1161
Halbleiterbauelemente; Meßverfahren für den Halbwertswinkel und die Abweichung zwischen optischer und mechanischer Achse; Identisch mit IEC 47(CO)1161

Titel (englisch)

Semiconductor devices; measuring method for half-intensity angle and misaligment angle of an emitting device; identical with IEC 47(Central Office)1161

Dokument: wird in anderen Dokumenten zitiert

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 1991-05
Originalsprache Deutsch
Preis ab 44,50 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Dr.

Tim Brückmann

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-364

Zum Kontaktformular