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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN IEC 47(CO)1159
Halbleiterbauelemente; Meßverfahren für Kollektor-, Emitter-Sättigungsspannung VCE(sat) von Phototransistoren; Identisch mit IEC 47(CO)1159

Titel (englisch)

Semiconductor devices; measuring method for collector-emitter-saturation voltage VCE(sat) of phototransistors; identical with IEC 47(Central Office)1159

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 1991-05
Originalsprache Deutsch
Preis ab 44,50 €
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Inhaltsverzeichnis

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