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ISO/DIS 23699
Mikrobereichsanalyse - Elektronenrückstreubeugung - Fachwörterverzeichnis
ISO/AWI 26100
Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Dickenmessung dünner Folien mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
ISO/AWI 17470
Mikrobereichsanalyse - Elektronensondenmikroanalyse - Leitfäden zur qualitativen Punktanalyse durch wellenlängendispersive Röntgenspektrometrie
ISO/WD 13139
Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Messung der Versetzungsdichte in dünnen Metallen
ISO/AWI 25871
Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Verfahren zur Dickenmessung dünner Kristalle durch konvergente Elektronenstrahlbeugung
ISO/FDIS 25387
Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung der Punktauflösung eines hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskops
NA 062-08-18 AA
Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
ISO/AWI 20171
Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie — Tagged Image File Format für die Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
ISO/TC 202/WG 7
Mikrobereichsanalyse - Elektronenrückstrahlbeugung - Messung der mittleren Korngröße
ISO/DIS 16887
Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems
