NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Projekt

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Tagged image file format for scanning electronmicroscopy (TIFF/SEM)

2026-01-05

ISO/AWI 20171

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

ISO/TC 202/SC 4 - Rasterelektronenmikroskopie

Ihr Kontakt

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058