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DIN EN IEC 61249-2-54
Materialien für Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen - Teil 2-54: Verstärkte Grundwerkstoffe, plattiert und nicht plattiert - Halogeniertes modifiziertes oder unmodifiziertes Harzsystem, gewebte E-Glas-Laminatplatten mit definiertem Verlustfaktor (weniger als 0,005 bei 10 GHz) und Brennbarkeit (vertikaler Brenntest), kupferkaschiert für Hochgeschwindigkeitsanwendungen
DIN EN IEC 61249-2-55
Materialien für Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen - Teil 2-55: Verstärkte Grundwerkstoffe, plattiert und nicht plattiert - Nicht halogeniertes modifiziertes oder unmodifiziertes Harzsystem, gewebte E-Glas-Laminatplatten mit definiertem Verlustfaktor (weniger als 0,005 bei 10 GHz) und Brennbarkeit (vertikaler Brenntest), kupferkaschiert für Hochgeschwindigkeitsanwendungen
DIN EN IEC 61254
Elektrische Rasierapparate für den Hausgebrauch - Bewertung der Erfahrungen und der Nutzerzufriedenheit
DIN EN IEC 61267
Medizinische diagnostische Röntgeneinrichtung - Bestrahlungsbedingungen zur Bestimmung von Kenngrößen (IEC/CDV 61267:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 61267:2024
DIN EN IEC 61280-4-2/A1
Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 4-2: Installierte Kabelanlagen - Einmoden-Dämpfungs- und optische Rückflussdämpfungsmessung (IEC 61280-4-2:2024); Deutsche Fassung EN IEC 61280-4-2:2024 - Teil 4-2: Installierte Kabelanlagen - Einmoden-Dämpfungs- und optische Rückflussdämpfungsmessung
DIN EN IEC 61284
Freileitungen - Anforderungen und Prüfungen für Armaturen
DIN EN IEC 61285
Prozessautomatisierung - Sicherheit von Analysengeräteräumen (IEC 65B/1272/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 61285:2024
DIN EN IEC 61290-1-2
Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Verstärker - Teil 1-2: Optische Leistungs- und Verstärkerparameter - Verfahren mit elektrischem Spektralanalysator
DIN EN IEC 61290-3-2
Lichtwellenleiter-Verstärker - Prüfverfahren - Teil 3-2: Rauschzahlparameter - Verfahren mit elektrischem Spektralanalysator
DIN EN IEC 61290-11-1
Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Verstärker - Teil 11-1: Polarisationsmodendispersionparameter - Jones-Matrix-Eigenanalyse (JME)